SABER UCV >
1) Investigación >
Artículos Publicados >

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10872/1693

Título : Valor pronóstico de los cambios fisiológicos asociados a la quimio-resistencia en Leishmania
Autor : Padron-Nieves, Maritza
Díaz, Emilia
Romero, Amarilis
Machuca, Claudia
Ponte-Sucre, Alicia
Palabras clave : Leishmania
marcadores de resistencia
Fecha de publicación : 14-Aug-2012
Citación : Vitae Academia Digital;33, 2008 (http://vitae.ucv.ve/).
Resumen : El fracaso terapéutico en leishmaniasis es común en áreas endémicas. Ocurre debido al compromiso inmunológico del paciente, a cambios en la farmacocinética de las drogas o a infecciones recurrentes. La resistencia a drogas juega un papel fundamental en este fracaso terapéutico, y hasta ahora no existen marcadores de resistencia fáciles de utilizar en la clínica. El único método confiable lo constituye el modelo in vitro macrófago-amastigote, que es laborioso y de alto costo. Debido a ello es fundamental la descripción de indicadores celulares y moleculares que puedan ser usados para identificar parásitos con fenotipo quimio-resistente. En esta revisión proponemos evaluar propiedades particulares evidenciadas en parásitos de referencia seleccionados como quimio-resistentes, en parásitos aislados de pacientes; adicionalmente planteamos un enfoque alternativo en la lucha contra la leishmaniasis donde, además de las estrategias de protección individual, control del vector y diagnóstico adecuado, se incluyan herramientas para el pronóstico del éxito de la quimioterapia en los pacientes infectados.
URI : http://hdl.handle.net/10872/1693
ISSN : 1317-987X
Aparece en las colecciones: Artículos Publicados

Ficheros en este ítem:

Fichero Descripción Tamaño Formato
Ponte-Sucre et al. VITAE.pdf1.09 MBAdobe PDFVisualizar/Abrir

Los ítems de DSpace están protegidos por copyright, con todos los derechos reservados, a menos que se indique lo contrario.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2008 MIT and Hewlett-Packard - Comentarios